熱釋光劑量計(jì)是利用熱致發(fā)光原理記錄累積輻射劑量的一種器件。
 

　　熱釋光(thermoluminescence)是指發(fā)光體中以某種方式被激發(fā)儲(chǔ)存了能量，然后加熱發(fā)光體，使發(fā)光體以光的形式把能量再釋放出來的發(fā)光現(xiàn)象。
 

　　熱釋光有時(shí)也譯作熱致光、熱發(fā)光，是一種冷發(fā)光現(xiàn)象。不可與黑體輻射(也稱為熱發(fā)光)混淆。常見的應(yīng)用有熱釋光測年法。
 

　　物理機(jī)制是發(fā)光體被激發(fā)時(shí)產(chǎn)生了離化，被離化出的電子將進(jìn)入導(dǎo)帶，這時(shí)它或者與離化中心復(fù)合產(chǎn)生發(fā)光 ，或者被材料中的陷阱俘獲。
 

　　所謂陷阱是缺陷或雜質(zhì)在晶體中形成的局部反常結(jié)構(gòu)。它在禁帶中形成了局域性能級，可以容納和儲(chǔ)存電子。
 

　　這些電子只有通過熱、光、電場的作用才能返回到導(dǎo)帶，到導(dǎo)帶后它們或者和離化中心復(fù)合產(chǎn)生發(fā)光，或者再次被陷阱俘獲。
 

　　由熱釋放出的電子同離化中心復(fù)合所產(chǎn)生的發(fā)光，就叫作熱釋光。熱釋光是形成長余輝發(fā)光的重要原因，有的材料的長余輝可以延續(xù)到十多個(gè)小時(shí)。
 

　　熱釋電子的概率正比于e，ε是陷阱深度，k是玻耳茲曼常數(shù)，T是溫度。熱釋光與陷阱深度有關(guān)。如線性升溫即恒速升溫時(shí)，熱釋光可直觀地顯示材料中的陷阱的種類及深度和每個(gè)陷阱的密度等。
 

　　熱釋光劑量計(jì)將接收照射的這種劑量計(jì)加熱，并用光電倍增管測量熱釋光輸出，即可讀出輻射劑量值。優(yōu)點(diǎn)是即使擱置很長時(shí)間后，其讀數(shù)衰減很少。此外，可制成各種形狀的膠片佩章，以供個(gè)人劑量監(jiān)測使用。
 

　　原理就是一些晶體存在結(jié)構(gòu)上的缺陷(如LiF)，當(dāng)射線照射過后產(chǎn)生自由電子和空穴后，電子和空穴又被俘獲(自由電子被導(dǎo)帶俘獲，空穴被激發(fā)能級俘獲)，而把這些晶體加熱后，被俘獲的電子獲得足夠的能量逃逸出來與空穴結(jié)合，同時(shí)多余的能量以光輻射的形式釋放出來，通過這樣的原理就有了熱釋光劑量計(jì)計(jì)算劑量這個(gè)方法。